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激光衍射粒度分析儀

簡(jiǎn)要描述:激光衍射粒度分析儀貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個(gè)更高的水平,升級版PIDS技術(shù)、優(yōu)化的132枚檢測器,保證了儀器分辨率更高,結果更準確,再現性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒,而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。

  • 產(chǎn)品型號:LS 13 320 XR
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):工程商
  • 更新時(shí)間:2024-05-09
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:2206

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貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個(gè)更高的水平,升級版PIDS技術(shù)(號:4953978;5104221)、優(yōu)化的132枚檢測器,保證了儀器分辨率更高,結果更準確,再現性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒,而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。PIDS技術(shù),真正實(shí)現10nm粒徑測量;新型的干、濕進(jìn)樣模塊,“即插即用",滿(mǎn)足不同的分析要求,靈活便利;直觀(guān)的軟件和觸摸屏設計,大大簡(jiǎn)化了儀器的操作,僅需點(diǎn)擊幾次便可獲得所需數據。LS 13 320 XR將為您帶來(lái)測量的新體驗!
激光衍射粒度分析儀主要特點(diǎn)
• 優(yōu)于ISO 13 320技術(shù)標準
• 符合FDA的21 CFR Part 11標準
• 檢測器數量更多,高達132枚獨立物理位置檢測器,對應高達136個(gè)真實(shí)數據通道,能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異,確保不缺漏絲毫信息,快速、準確的真實(shí)粒度測量。
• 設計的“X"型對數排布檢測器陣列,可以準確記錄散射光強信號,不管單峰、多峰,準確分析粒度分布。
• 全自動(dòng)運算分析功能,多峰自動(dòng)檢測,無(wú)需事先猜測峰型,無(wú)需選擇分析模型,提供客觀(guān)的報告。
• 升級版PIDS技術(shù)提供創(chuàng )新的高分辨率納米粒度分析功能,真正實(shí)現10nm下限峰值測量。
• PIDS技術(shù)不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒,而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。
• 納米分析功能與微米分析功能合二為一,功能強大,真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。
• 新一代固體激光光源,無(wú)需預熱,7萬(wàn)小時(shí)以上開(kāi)機使用壽命 。
• 并行式信號采集與傳輸,確保信號保持高信噪比、無(wú)時(shí)差、高通量。
• 多波長(cháng)和偏振光分析技術(shù)令粒度分布在寬動(dòng)態(tài)范圍內的準確性分析獲得高度保障。
• 多種自動(dòng)化樣品分散系統,“即插即用",數秒即可完成切換,高效便利。
• 新一代觸摸屏設計ADAPT分析軟件,操作更直觀(guān),無(wú)需操作經(jīng)驗,簡(jiǎn)單三步完成測量,直觀(guān)醒目的導航輪,僅需一步實(shí)現數據顯示與導出。
• ADAPT軟件自動(dòng)對測量結果標準綠色或紅色,自動(dòng)合格/不合格管理,實(shí)現直接質(zhì)控。
• 軟件配有強大的光學(xué)參數數據庫,具有創(chuàng )新的“Zero-Time"即時(shí)光學(xué)模型系統,只需一秒即可建立新的光學(xué)模型,提供客觀(guān)準確的分析報告。
• 儀器配有自檢診斷功能,測試過(guò)程中隨時(shí)顯示測量情況。
技術(shù)參數:
• 粒徑范圍:10納米-3500微米 (峰值)
• 主光路激光光源:光纖連接的固體激光器
• 檢測器:132枚獨立物理角度檢測器
• 真實(shí)分析通道:136個(gè)
• 多波長(cháng)測量:475nm、613nm、785nm及900nm
• 光學(xué)理論模型:全程Mie理論;Fraunhofer理論
• 準確性誤差:小于+/- 0.5%
• 重現性誤差:小于+/- 0.5%
激光衍射粒度分析儀應用優(yōu)勢:
• 廣泛應用于食品添加劑、土壤、沉淀物、黏合劑、合金、金屬粉末、藥物、礦物、紙等應用領(lǐng)域。
• 大容量,專(zhuān)為土壤、沉積物設計 –標準樣品臺——容量高達1500mL,提高寬分布樣品的代表性、準確度及重復性
√ 自動(dòng)智能清洗,自動(dòng)進(jìn)排液,循環(huán)速度可調
√ 內置樣品超聲處理,達到穩定可靠分散
• 對含量較少的細顆粒成分( 粘粒、細粉沙) 和粗顆粒成分檢測效果理想,全自動(dòng)操作簡(jiǎn)單

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